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shallow trench isolation製程

CMOS淺溝槽隔離氧化層之高度差對元件特性之研究

本研究探討場發射金屬氧化半導電晶體(MOSFET)淺溝槽隔離絕緣層(Shallow Trench Isolation,STI)與鄰近電晶體主動區的高度差(Step-height)對元件特性的影響。 ...(以下省略)

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