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延遲測試也稱作AC測試、動態測試、或全速(at-speed)測試(以工作時脈的速率測試)。有兩種基本的延遲測試法:瞬變故障(transition fault)和路徑延遲(path delay)。瞬變故障法 ...
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2022年6月9日 — 通常,我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试,测试频率是10M-30M ,AC SCAN 也就是at-speed scan 即实速测试,测试频率与芯片真实工作频率是一样 ...
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2008年12月19日 — DFT Compiler支持两种模式的带OCC的扫描链插入,一种是自身的设计已经带上OCC电路的,另一种是不带OCC电路的。 下面分别说说这两种插入的流程。 1.OCC ...
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EE Times examines techniques for making at-speed testing easier, including an overview of path delay model and transitio...
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由 V Vorisek 著作 · 被引用 20 次 — This paper discusses the aspects and associated requirements of design and implementatio...
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2023年6月8日 — At-speed testing aims to detect path delay faults by applying test patterns that target critical paths wit...
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2020年12月28日 — 插入DFT的OCC控制器要求ATE时钟必须是定义为振荡器时钟的自由运行时钟。 不要在内部和外部时钟之间执行域间测试。内部时钟 ...
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2018年2月15日 — “at-speed testing” is used when we use the functional clock frequency in the test. In any general circuit...
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2016年10月8日 — 4. 全速测试at-speed-test(其实是属于扫描测试的一种。只不过测试时钟来源频率更快。) at-speed 就是实速测试, 主要用于scan测试-即AC测试,和 ...
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2022年5月25日 — ATPG – Automatic test Pattern Generation · Used to create a set of patterns, which can test the design fo...
DFT at speed test 參考影音
繼續努力蒐集當中...